日本东京电子测试、测量和分析技术展览会 ELECTROTEST JAPAN

展会时间:2027-02-17 至 2027-02-19
展馆地点:Tokyo Big Sight International Exhibition Center

日本东京电子测试、测量和分析技术展览会 ELECTROTEST JAPAN

   2026-08-18 2
展会日期 2027-02-17 至 2027-02-19   状态
展出城市
展出地址 3-21-1 Ariake, Koto-ku, Tokyo 135-0063, Japan
展馆名称 Tokyo Big Sight International Exhibition Center
主办单位 励展集团
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展会说明

本东京电子测试、测量和分析技术展览会(ELECTROTEST JAPAN)是电子研发制造领域有关测试、检查、测量和分析技术的专业展会。本次展会是一个与国内外电子设备、半导体及电子配件、汽车及电气设备制造商进行洽谈的场所。

聚展多次组织了部分优质企业参展!日本东京电子测试、测量和分析技术展览会(ELECTROTEST JAPAN)上届展会总面积18000平方米,参展企业390家均来自中国、韩国、迪拜、印度、美国、新加坡、德国、巴西、西班牙等,参展人数达20000人。

日本东京电子测试、测量和分析技术展览会(ELECTROTEST JAPAN)现场来自电子设备、EMS企业/分包商、半导体、汽车、电子元件等行业的制造商汇聚一堂,探讨电子测试、测量和分析技术未来的解决方案。 

日本东京电子测试、测量和分析技术展览会门票为电子门票,国内外观众线上预登记办理需实名制绑定护照信息,门票购买后主办方需进行观众身份认证审核,对不符合展会入场标准的客户会要求补充审核材料,审核通过后会出具邮件确认或QR CODE,现场凭护照原件和确认函换领纸质进馆证或直接扫码入场。


联系方式
联系人:吴经理
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2027-02-17 2027-02-19

距离展会开幕
还有171天

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